Creep measurement and choice of creep laws for BGA assemblies' reliability simulation

Samuel Pin; Alexandrine Guédon-Gracia; Jean-Yves Delétage; Hélène Fremont

Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2018

Creep measurement and choice of creep laws for BGA assemblies' reliability simulation

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Samuel Pin

Fonction : Auteur

IRT Saint Exupéry - Institut de Recherche Technologique

Alexandrine Guédon-Gracia

Fonction : Auteur
PersonId : 843497
IdHAL : alexandrine-guedon-gracia

Laboratoire de l'intégration, du matériau au système

CV

Jean-Yves Delétage

Fonction : Auteur
PersonId : 1168322
IdHAL : jean-yves-deletage
ORCID : 0000-0002-8335-0967

Laboratoire de l'intégration, du matériau au système

Hélène Fremont

Fonction : Auteur
PersonId : 183224
IdHAL : helene-fremont
ORCID : 0000-0003-3747-5774
IdRef : 127007571

Laboratoire de l'intégration, du matériau au système

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics] Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Isabelle FAVRE : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-02516790

Soumis le : mardi 24 mars 2020-09:48:50

Dernière modification le : vendredi 9 février 2024-10:37:00

Dates et versions

hal-02516790 , version 1 (24-03-2020)

Identifiants

HAL Id : hal-02516790 , version 1

Citer

Samuel Pin, Alexandrine Guédon-Gracia, Jean-Yves Delétage, Hélène Fremont. Creep measurement and choice of creep laws for BGA assemblies' reliability simulation. Microelectronics Reliability, 2018. ⟨hal-02516790⟩

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