Communication Dans Un Congrès
Année : 2019
Isabelle FAVRE : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02515648
Soumis le : lundi 23 mars 2020-15:26:20
Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02515648 , version 1
Citer
A. Durier, S. Ben Dhia, T. Dubois. Comparison of Voltages Induced in an Electronic Equipment during Far Field and Near Field Normative Radiated Immunity Tests. Proceedings of EMC Europe, 2019, 2019, Barcelona, Spain. ⟨hal-02515648⟩
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