Article Dans Une Revue
ECS Transactions
Année : 2019
UMI3463 LN2 : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02453652
Soumis le : vendredi 24 janvier 2020-03:18:12
Dernière modification le : mardi 28 mai 2024-11:48:02
Citer
Alex Brice Poungoué Mbeunmi, Roxana Arvinte, Mohammad Reza Aziziyan, Richard A Arès, Simon Fafard, et al.. Growth and Memory Effect of Ge in GaAs Epilayers Grown in UHV Environment Using IBGe. ECS Transactions, 2019, 93 (1), pp.113-116. ⟨10.1149/09301.0113ecst⟩. ⟨hal-02453652⟩
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