Growth and Memory Effect of Ge in GaAs Epilayers Grown in UHV Environment Using IBGe - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue ECS Transactions Année : 2019

Dates et versions

hal-02453652 , version 1 (24-01-2020)

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Citer

Alex Brice Poungoué Mbeunmi, Roxana Arvinte, Mohammad Reza Aziziyan, Richard A Arès, Simon Fafard, et al.. Growth and Memory Effect of Ge in GaAs Epilayers Grown in UHV Environment Using IBGe. ECS Transactions, 2019, 93 (1), pp.113-116. ⟨10.1149/09301.0113ecst⟩. ⟨hal-02453652⟩
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