Etude par Microscopie à sonde de Kelvin (KPFM) des phénomènes d’injection et de stockage de charges électriques dans des couches minces de SiO2 contenant des inclusions métalliques de taille nanométrique

C. Djaou (1) , Christina Villeneuve-Faure (1) , Laurent Boudou (1) , Kremena Makasheva (2) , G. Teyssedre (1)

1 LAPLACE-DSF - Diélectriques Solides et Fiabilité
2 LAPLACE-ScIPRA - Sciences et Ingénierie des Plasmas Réactifs et des Arcs

Domaines: Sciences de l'ingénieur [physics]; Matériaux

C. Djaou, Christina Villeneuve-Faure, Laurent Boudou, Kremena Makasheva, G. Teyssedre. Etude par Microscopie à sonde de Kelvin (KPFM) des phénomènes d’injection et de stockage de charges électriques dans des couches minces de SiO2 contenant des inclusions métalliques de taille nanométrique. 11e Conf. Société Française d'Electrostatique (SFE), 29-31 août 2018, Grenoble, France. Proc. SFE 2018, pp. 1-5, 2018, Aug 2018, Grenoble, France. pp.1-5. ⟨hal-02397415v1⟩