TCAD versus High Frequency Mesurements of SiGe HBTs - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2019
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02372723 , version 1 (20-11-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02372723 , version 1

Citer

Soumya Ranjan Panda, Sebastien Fregonese, Chakravorty Anjan, Thomas Zimmer. TCAD versus High Frequency Mesurements of SiGe HBTs. AKB: BIPOLAR Working Group, D. Céli, Nov 2019, Crolles, France. ⟨hal-02372723⟩

Collections

CNRS
25 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More