Investigation of point defects in HfO 2 using positron annihilation spectroscopy: internal electric fields impact
M Alemany
(1, 2, 3)
,
A. Chabli
(4)
,
E. Oudot
(2)
,
P. Desgardin
(1)
,
F. Bertin
(3)
,
M. Gros-Jean
(2)
,
M.-F. Barthe
(1)
,
F. Pierre
(3)
1
CEMHTI -
Conditions Extrêmes et Matériaux : Haute Température et Irradiation
2 ST-CROLLES - STMicroelectronics [Crolles]
3 CEA-LETI - Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information
4 INES - Institut National de L'Energie Solaire
2 ST-CROLLES - STMicroelectronics [Crolles]
3 CEA-LETI - Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information
4 INES - Institut National de L'Energie Solaire
A. Chabli
- Fonction : Auteur
- PersonId : 741184
- IdHAL : amal-chabli
- IdRef : 164258043
P. Desgardin
- Fonction : Auteur
- PersonId : 742677
- IdHAL : pierre-desgardin
- ORCID : 0000-0001-6563-2728
- IdRef : 175714827
M.-F. Barthe
- Fonction : Auteur
- PersonId : 174477
- IdHAL : marie-france-barthe
- ORCID : 0000-0002-0170-9498
- IdRef : 112510078