Article Dans Une Revue
Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications
Année : 2012
Karine Coulié : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02025257
Soumis le : mardi 19 février 2019-15:41:51
Dernière modification le : mardi 5 décembre 2023-18:08:07
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02025257 , version 1
Citer
K. Castellani-Coulié, Hassen Aziza, G. Micolau, Jean-Michel Portal. Optimization of SEU Simulations for SRAM Cells Reliability under Radiation. Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications, 2012, 28 (3), pp.331-338. ⟨hal-02025257⟩
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