X-ray imaging of single semi-conductor nanostructures for photonics and electronics

Vincent Favre-Nicolin (1) , Gaétan Girard , Joël Eymery (2) , Steven Leake (1) , Ondrej Mandula (2) , Marta Elzo-Aizarna (3) , François Andrieu (4) , Remy Berthelon , Jean-Michel Gérard (5) , Julien Claudon (6)

1 ESRF - European Synchrotron Radiation Facility
2 CEA-LETI - Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information
3 NRS - Nanostructures et Rayonnement Synchrotron
4 GEOPS - Géosciences Paris Sud
5 NPSC - Nanophysique et Semiconducteurs
6 INAC - Institut Nanosciences et Cryogénie

Domaines: Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]; Physique Quantique [quant-ph]; Optique [physics.optics]; Micro et nanotechnologies/Microélectronique; Optique / photonique

Vincent Favre-Nicolin, Gaétan Girard, Joël Eymery, Steven Leake, Ondrej Mandula, et al.. X-ray imaging of single semi-conductor nanostructures for photonics and electronics. Acta Crystallographica Section A : Foundations and Advances [2014-..], 2017, 73 (a2), pp.C501-C501. ⟨10.1107/s2053273317090726⟩. ⟨hal-01990220⟩