Article Dans Une Revue
Ultramicroscopy
Année : 2014
Jean-Luc Rouviere : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01972657
Soumis le : lundi 7 janvier 2019-18:22:32
Dernière modification le : mercredi 3 avril 2024-11:08:06
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01972657 , version 1
- DOI : 10.1016/j.ultramic.2013.07.018
Citer
Jian-Min Zuo, Amish Shah, Honggyu Kim, Yifei Meng, Wenpei Gao, et al.. Lattice and strain analysis of atomic resolution Z-contrast images based on template matching. Ultramicroscopy, 2014, 136, pp.50-60. ⟨10.1016/j.ultramic.2013.07.018⟩. ⟨hal-01972657⟩
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