Detection de defauts ponctuels et de la silice dans des materiaux composites SiC-SiC par cathodoluminescence. Imagerie et analyse spectrale - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Comptes Rendus de l'Academie des Sciences Serie II Année : 1991

Detection de defauts ponctuels et de la silice dans des materiaux composites SiC-SiC par cathodoluminescence. Imagerie et analyse spectrale

Domaines

Physique [physics] Matière Condensée [cond-mat]

Pierre Muller  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

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Soumis le : vendredi 4 janvier 2019-15:25:05

Dernière modification le : lundi 22 mai 2023-12:12:06

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Dates et versions

hal-01966978 , version 1 (04-01-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01966978 , version 1

Citer

Rémy Chapoulie, Max Schvoerer, Pierre Müller. Detection de defauts ponctuels et de la silice dans des materiaux composites SiC-SiC par cathodoluminescence. Imagerie et analyse spectrale. Comptes Rendus de l'Academie des Sciences Serie II, 1991. ⟨hal-01966978⟩

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