Méthode de caractérisation large bande de fréquence de matériaux isolants par contact direct « sonde de mesure / échantillon »

Thierry Lacrevaz (1) , David Auchère (2) , Grégory Houzet (1) , Philippe Artillan (1) , Bernard Flechet (1) , Cédric Bermond (1) , Benjamin Blampey (1)

1 IMEP-LAHC - Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation
2 STMicroelectronics

Domaines: Physique [physics]; Sciences de l'ingénieur [physics]

Thierry Lacrevaz, David Auchère, Grégory Houzet, Philippe Artillan, Bernard Flechet, et al.. Méthode de caractérisation large bande de fréquence de matériaux isolants par contact direct « sonde de mesure / échantillon ». Journées de Caractérisation Microondes et Matériaux (JCMM), Mar 2018, Paris, France. ⟨hal-01939115⟩