Ultra wide range measurement of the spectral properties of thin-film filters: Specular and scattered light metrology - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2017

Ultra wide range measurement of the spectral properties of thin-film filters: Specular and scattered light metrology

Myriam Zerrad
CONCEPT
CV
Simona Liukaityte
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 962541
CONCEPT
Michel Lequime
CONCEPT
Claude Amra
CONCEPT
CV

Domaines

Optique / photonique Electromagnétisme Optique [physics.optics]

Myriam ZERRAD  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01933137

Soumis le : vendredi 23 novembre 2018-15:23:57

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:08

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01933137 , version 1 (23-11-2018)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01933137 , version 1

Citer

Myriam Zerrad, Simona Liukaityte, Michel Lequime, Claude Amra. Ultra wide range measurement of the spectral properties of thin-film filters: Specular and scattered light metrology. ”, Frontiers of Optical Coatings, Oct 2017, Canton, China. ⟨hal-01933137⟩

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