Electrochemical Evidence for Two Sub-families of FeN x C y Moieties with Concentration-Dependent Cyanide Poisoning - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue ChemElectroChem Année : 2018
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Dates et versions

hal-01807216 , version 1 (04-06-2018)

Identifiants

Citer

Min Wook Chung, Gajeon Chon, Hyungjun Kim, Frederic Jaouen, Chang Hyuck Choi. Electrochemical Evidence for Two Sub-families of FeN x C y Moieties with Concentration-Dependent Cyanide Poisoning. ChemElectroChem, 2018, Special Issue: Non‐Precious‐Metal ORR Electrocatalysis, 5, pp.1880-1885. ⟨10.1002/celc.201800067⟩. ⟨hal-01807216⟩
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