Automatic defect localization in VLSI circuits: A fusion approach based on the Dempster-Shafer theory - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2017

Automatic defect localization in VLSI circuits: A fusion approach based on the Dempster-Shafer theory

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics]

Ivan PORCHEROT  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01794952

Soumis le : vendredi 18 mai 2018-09:11:35

Dernière modification le : jeudi 7 septembre 2023-16:08:10

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01794952 , version 1 (18-05-2018)

Identifiants

Citer

A. Boscaro, S. Jacquir, K. Sanchez, P. Perdu, S. Binczak. Automatic defect localization in VLSI circuits: A fusion approach based on the Dempster-Shafer theory. 2017 20th International Conference on Information Fusion (Fusion), Jul 2017, Xi'an, France. ⟨10.23919/ICIF.2017.8009813⟩. ⟨hal-01794952⟩

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