Impact of Nonhomoepitaxial Defects in Depleted Diamond MOS Capacitors
T. Pham
(1)
,
J. Piñero
(2)
,
A. Maréchal
(1)
,
M. Gutierrez
(3)
,
F. Lloret
(3)
,
D. Eon
(1)
,
E. Gheeraert
(1)
,
Nicolas C. Rouger
(4)
,
D. Araujo
(5)
,
Julien Pernot
(1)
F. Lloret
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E. Gheeraert
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Nicolas C. Rouger
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D. Araujo
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Julien Pernot
- Fonction : Auteur
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