Determination of structural parameters characterizing thin films by optical methods: A comparison between scanning angle reflectometry and optical waveguide lightmode spectroscopy - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue The Journal of Chemical Physics Année : 2001

Determination of structural parameters characterizing thin films by optical methods: A comparison between scanning angle reflectometry and optical waveguide lightmode spectroscopy

Frédéric Cuisinier
C. Picart
  • Fonction : Auteur
inconnu
G. Ladam
B. Senger
C. Voegel
  • Fonction : Auteur
P. Schaaf
Institut Charles Sadron
C. Gergely

Domaines

Biophysique [physics.bio-ph]

frederic cuisinier  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

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Soumis le : lundi 26 mars 2018-13:04:22

Dernière modification le : mardi 21 mai 2024-13:44:22

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Dates et versions

hal-01743279 , version 1 (26-03-2018)

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Citer

Frédéric Cuisinier, C. Picart, G. Ladam, B. Senger, C. Voegel, et al.. Determination of structural parameters characterizing thin films by optical methods: A comparison between scanning angle reflectometry and optical waveguide lightmode spectroscopy. The Journal of Chemical Physics, 2001, 115 (2), pp.1086 - 1094. ⟨10.1063/1.1375156⟩. ⟨hal-01743279⟩

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