Immunity Measurement and Modeling of an ADC Embedded in a Microcontroller Using RFIP Technique

Ala Ayed; Tristan Dubois; Jean-Luc Levant; Geneviève Duchamp

doi:10.1109/TEMC.2015.2422140

Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility Année : 2015

Immunity Measurement and Modeling of an ADC Embedded in a Microcontroller Using RFIP Technique

(1) , (1) , (2) , (1)

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2

Ala Ayed

Fonction : Auteur

Laboratoire de l'intégration, du matériau au système

Tristan Dubois

Fonction : Auteur
PersonId : 737763
IdHAL : tristan-dubois
ORCID : 0000-0002-2495-2976
IdRef : 139527613

Laboratoire de l'intégration, du matériau au système

Jean-Luc Levant

Fonction : Auteur
PersonId : 861662

ATMEL-NANTES

Geneviève Duchamp

Fonction : Auteur
PersonId : 18021
IdHAL : genevieve-duchamp
ORCID : 0000-0003-4717-6508
IdRef : 033689849

Laboratoire de l'intégration, du matériau au système

Domaines

Electronique

Tristan Dubois : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01725099

Soumis le : mercredi 7 mars 2018-09:54:41

Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11

Dates et versions

hal-01725099 , version 1 (07-03-2018)

Identifiants

HAL Id : hal-01725099 , version 1
DOI : 10.1109/TEMC.2015.2422140

Citer

Ala Ayed, Tristan Dubois, Jean-Luc Levant, Geneviève Duchamp. Immunity Measurement and Modeling of an ADC Embedded in a Microcontroller Using RFIP Technique. IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2015, 57 (5), pp.955 - 962. ⟨10.1109/TEMC.2015.2422140⟩. ⟨hal-01725099⟩

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