Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 1996
sebastien fregonese : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01721400
Soumis le : vendredi 2 mars 2018-09:48:55
Dernière modification le : mercredi 15 novembre 2023-13:14:27
Citer
J.B. Duluc, T. Zimmer, N. Milet, J.P. Dom. A wafer level reliability method for short-loop processing. Microelectronics Reliability, 1996, 36 (11-12), pp.1859 - 1862. ⟨10.1016/0026-2714(96)00215-6⟩. ⟨hal-01721400⟩
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