Image Analysis of High Temperature Creep Induced Microstructures in a Nickel Based Superalloy - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Acta Stereologica Année : 1991

Image Analysis of High Temperature Creep Induced Microstructures in a Nickel Based Superalloy

Jean-Yves Buffiere
Matériaux, ingénierie et science [Villeurbanne]
M Ignat
  • Fonction : Auteur
J‐m Chaix

Domaines

Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]

Jean-Yves Buffiere  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

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Soumis le : jeudi 21 décembre 2017-09:14:55

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Dates et versions

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Identifiants

  • HAL Id : hal-01669992 , version 1

Citer

Jean-Yves Buffiere, M Ignat, J‐m Chaix. Image Analysis of High Temperature Creep Induced Microstructures in a Nickel Based Superalloy. Acta Stereologica, 1991, 11 (1), pp.489-494. ⟨hal-01669992⟩

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