Exponential convergence of testing error for stochastic gradient methods

Loucas Pillaud-Vivien 1 Alessandro Rudi 1 Francis Bach 1
1 SIERRA - Statistical Machine Learning and Parsimony
DI-ENS - Département d'informatique de l'École normale supérieure, CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique, Inria de Paris
Abstract : We consider binary classification problems with positive definite kernels and square loss, and study the convergence rates of stochastic gradient methods. We show that while the excess testing loss (squared loss) converges slowly to zero as the number of observations (and thus iterations) goes to infinity, the testing error (classification error) converges exponentially fast if low-noise conditions are assumed.
Type de document :
Pré-publication, Document de travail
2018
Liste complète des métadonnées

https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01662278
Contributeur : Loucas Pillaud-Vivien <>
Soumis le : jeudi 28 juin 2018 - 15:32:56
Dernière modification le : samedi 30 juin 2018 - 01:22:13

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Identifiants

  • HAL Id : hal-01662278, version 2
  • ARXIV : 1712.04755

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Loucas Pillaud-Vivien, Alessandro Rudi, Francis Bach. Exponential convergence of testing error for stochastic gradient methods. 2018. 〈hal-01662278v2〉

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