Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2015
François Marc : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01661808
Soumis le : mardi 12 décembre 2017-11:39:14
Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01661808 , version 1
- DOI : 10.1016/j.microrel.2015.06.087
Citer
Mohammad Naouss, F. Marc. Design and implementation of a low cost test bench to assess the reliability of FPGA. Microelectronics Reliability, 2015, 55 (9-10), pp.1341 - 1345. ⟨10.1016/j.microrel.2015.06.087⟩. ⟨hal-01661808⟩
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