Determining the energy-dependent X-ray flux variation of a synchrotron beamline using Laue diffraction patterns

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Journal of Applied Crystallography, International Union of Crystallography, 2011, 44 (1), pp.177 - 183. 〈10.1107/S0021889810052015〉
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Contributeur : Colin Bousige <>
Soumis le : jeudi 5 octobre 2017 - 09:25:41
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:19:33

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Colin Bousige, Catherine Dejoie, Martin Kunz, Nobumichi Tamura, Kai Chen, et al.. Determining the energy-dependent X-ray flux variation of a synchrotron beamline using Laue diffraction patterns. Journal of Applied Crystallography, International Union of Crystallography, 2011, 44 (1), pp.177 - 183. 〈10.1107/S0021889810052015〉. 〈hal-01610742〉

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