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Conference papers

Optimisation des Tests de Production pour les Circuits Analogiques avec prise en compte des tolérances

Abdelhakim Khouas 1 Anne Derieux 1 
1 ASIM - Architecture des Systèmes intégrés et Micro électronique
LIP6 - Laboratoire d'Informatique de Paris 6
Document type :
Conference papers
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01574789
Contributor : Lip6 Publications Connect in order to contact the contributor
Submitted on : Wednesday, August 16, 2017 - 3:09:46 PM
Last modification on : Sunday, June 26, 2022 - 9:54:30 AM

Identifiers

  • HAL Id : hal-01574789, version 1

Citation

Abdelhakim Khouas, Anne Derieux. Optimisation des Tests de Production pour les Circuits Analogiques avec prise en compte des tolérances. Colloque CAO de Circuits Intégrés et Systèmes GDR 732, May 1999, Aix-en-Provence, France. ⟨hal-01574789⟩

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