Optimisation des Tests de Production pour les Circuits Analogiques avec prise en compte des tolérances

Document type :
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Contributor : Lip6 Publications <>
Submitted on : Wednesday, August 16, 2017 - 3:09:46 PM
Last modification on : Thursday, March 21, 2019 - 1:06:29 PM

Identifiers

  • HAL Id : hal-01574789, version 1

Citation

Abdelhakim Khouas, Anne Derieux. Optimisation des Tests de Production pour les Circuits Analogiques avec prise en compte des tolérances. Colloque CAO de Circuits Intégrés et Systèmes GDR 732, May 1999, Aix-en-Provence, France. ⟨hal-01574789⟩

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