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Conference papers

Utilisation d’informations géométriques a priori pour améliorer l’identification du champ H mesuré autour d’un dispositif

Résumé : Les interférences électromagnétiques entre dispositifs d’électronique de puissance causent souvent des dysfonctionnements. Cette problématique de compatibilité électromagnétique est devenue un enjeu essentiel pour leur conception. Ce travail se concentre sur le couplage inductif entre deux systèmes, en champ proche. Afin de le prendre en compte dès la phase de conception industrielle, une méthode prédictive a été proposée, basée sur le développement en harmoniques sphériques du champ mesuré autour de chaque système pris séparément. La précision de cette caractérisation dépend de plusieurs facteurs comme le nombre de mesures, les positions des points de mesure, la sensibilité de l’appareil utilisé, etc. On dispose souvent, en plus des mesures, d’informations a priori sur le dispositif mesuré, qui permettent en appliquant une méthode bayésienne d’améliorer la précision de l’identification. Dans ce travail, on fait le lien entre les propriétés du développement en harmoniques sphériques et les informations (notamment géométriques) disponibles. On montre ensuite comment utiliser ces informations pour améliorer la résolution du problème d’identification. En pratique, ces informations (périodicités, symétries, . . .), sont souvent accompagnées d’un biais : nous montrons comment en tenir compte. Nous illustrerons nos résultats par quelques exemples, en particulier celui d’une inductance de lissage.
Document type :
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Contributor : Publications Ampère Connect in order to contact the contributor
Submitted on : Friday, April 26, 2019 - 11:39:17 AM
Last modification on : Monday, September 13, 2021 - 2:44:03 PM

File

Numelec07_Li.pdf
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Identifiers

  • HAL Id : hal-01563074, version 1

Citation

Zhao Li, François Tavernier, Arnaud Bréard, Laurent Krähenbühl. Utilisation d’informations géométriques a priori pour améliorer l’identification du champ H mesuré autour d’un dispositif. Numélec 2017, Nov 2017, Paris, France. ⟨hal-01563074⟩

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