Poster De Conférence
Année : 2016
Thomas Tillocher : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01561230
Soumis le : mercredi 12 juillet 2017-15:14:20
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:04
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01561230 , version 1
Citer
Thomas Tillocher, Remi Dussart, Nicolas Holtzer, Philippe Lefaucheux. Enhanced reproducibility of SiO2 atomic layer etching by addition of O2 steps. International Symposium of Dry Process 2016 (DPS2016), Nov 2016, Sapporo, Japan. ⟨hal-01561230⟩
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