Enhanced reproducibility of SiO2 atomic layer etching by addition of O2 steps - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Poster De Conférence Année : 2016
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01561230 , version 1 (12-07-2017)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01561230 , version 1

Citer

Thomas Tillocher, Remi Dussart, Nicolas Holtzer, Philippe Lefaucheux. Enhanced reproducibility of SiO2 atomic layer etching by addition of O2 steps. International Symposium of Dry Process 2016 (DPS2016), Nov 2016, Sapporo, Japan. ⟨hal-01561230⟩
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