Heterogenous void growth revealed by in situ 3-D X-ray microtomography using automatic cavity tracking
Résumé
no abstract
Eric MAIRE : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01538028
Soumis le : mardi 13 juin 2017-11:42:28
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:04