Reliability assessment of backward error recovery for SRAM-based FPGAs
Résumé
no abstract
Communication Dans Un Congrès
Année : 2014
Bertrand Granado : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01534331
Soumis le : mercredi 7 juin 2017-15:08:53
Dernière modification le : vendredi 19 avril 2024-16:18:57
Citer
Fouad Sahraoui, Fakhreddine Ghaffari, Mohamed El Amine Benkhelifa, Bertrand Granado. Reliability assessment of backward error recovery for SRAM-based FPGAs. 9th IEEE International Design and Test Symposium (IDT), Dec 2014, Alger, Algeria. ⟨10.1109/IDT.2014.7038622⟩. ⟨hal-01534331⟩
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