Surface analysis techniques (XPS, AES-SEM, AFM) for the study of miniaturized source of energ - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Poster De Conférence Année : 2012

Surface analysis techniques (XPS, AES-SEM, AFM) for the study of miniaturized source of energ

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https://hal.science/hal-01497844

Soumis le : mercredi 29 mars 2017-12:52:19

Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:15

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Dates et versions

hal-01497844 , version 1 (29-03-2017)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01497844 , version 1

Citer

Hervé Martinez. Surface analysis techniques (XPS, AES-SEM, AFM) for the study of miniaturized source of energ. 15TH MEETING OF CHARACTERIZATION METHODS FOR MICROELECTRONICS AND PHOTOVOLTAICS, Nov 2012, Aix en Provence, France. ⟨hal-01497844⟩

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