A Fully-Digital BIST Wrapper Based on Ternary Test Stimuli for the Dynamic Test of a 40 nm CMOS 18-bit Stereo Audio ΣΔ ADC

Manuel J. Barragan (1) , Rshdee Alhakim (1) , Haralampos-G. Stratigopoulos (2) , Matthieu Dubois (3) , Salvador Mir (1) , Hervé Le-Gall (4) , Neha Bhargava (4) , Ankur Bal (4)

1 TIMA - Techniques de l'Informatique et de la Microélectronique pour l'Architecture des systèmes intégrés
2 CIAN - Circuits Intégrés Numériques et Analogiques
3 Pyxalis (FRANCE)
4 STMicroelectronics

Domaines: Micro et nanotechnologies/Microélectronique; Ingénierie assistée par ordinateur; Systèmes embarqués; Modélisation et simulation; Intelligence artificielle [cs.AI]; Electronique

Manuel J. Barragan, Rshdee Alhakim, Haralampos-G. Stratigopoulos, Matthieu Dubois, Salvador Mir, et al.. A Fully-Digital BIST Wrapper Based on Ternary Test Stimuli for the Dynamic Test of a 40 nm CMOS 18-bit Stereo Audio ΣΔ ADC. IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers, 2016, ⟨10.1109/TCSI.2016.2602387⟩. ⟨hal-01447789⟩