Communication Dans Un Congrès
Année : 2016
Lucie Torella : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01444967
Soumis le : mardi 24 janvier 2017-14:25:43
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-18:26:22
Dates et versions
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Identifiants
- HAL Id : hal-01444967 , version 1
Citer
K. Chibani, Michele Portolan, Régis Leveugle. Evaluating Application-Aware Soft Error Effects in Digital Circuits Without Fault Injections or Probabilistic Computations. 22nd IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS'16), Jul 2016, St Feliu de Guixols, Spain. pp.54-59. ⟨hal-01444967⟩
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