In situ study of a thin metal film by optical means

R. Lazzari; J. Jupille; Y. Borensztein

doi:10.1016/S0169-4332(98)00646-1

Article Dans Une Revue Applied Surface Science Année : 1999

In situ study of a thin metal film by optical means

(1) , (2) , (2)

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R. Lazzari

Fonction : Auteur
PersonId : 182273
IdHAL : remi-lazzari
ORCID : 0000-0003-2354-1953
IdRef : 175357587

Oxydes en basses dimensions

J. Jupille

Fonction : Auteur

Institut des Nanosciences de Paris

Y. Borensztein

Fonction : Auteur

Institut des Nanosciences de Paris

Domaines

Chimie-Physique [physics.chem-ph] Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci] Electromagnétisme Optique / photonique

Rémi Lazzari : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01442920

Soumis le : samedi 21 janvier 2017-15:48:14

Dernière modification le : mardi 23 janvier 2024-14:58:58

Dates et versions

hal-01442920 , version 1 (21-01-2017)

Identifiants

HAL Id : hal-01442920 , version 1
DOI : 10.1016/S0169-4332(98)00646-1

Citer

R. Lazzari, J. Jupille, Y. Borensztein. In situ study of a thin metal film by optical means. Applied Surface Science, 1999, 142 (1-4), pp.451 - 454. ⟨10.1016/S0169-4332(98)00646-1⟩. ⟨hal-01442920⟩

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