I-BIRAS: « Interconnect Built-In Self-Repair and Adaptive-Serialization - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2010
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01408780 , version 1 (05-12-2016)

Licence

Paternité - Pas d'utilisation commerciale

Identifiants

  • HAL Id : hal-01408780 , version 1

Citer

M. Nicolaidis, Lorena Anghel, V. Pasca. I-BIRAS: « Interconnect Built-In Self-Repair and Adaptive-Serialization. International Test Conference Workshop on Test of 3D Stacked Systems (3D-TEST), Nov 2010, Austin, TX, United States. ⟨hal-01408780⟩

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