Predicting the risk of non-compliance to EMC requirements during the life-cycle

Alexandre Boyer 1 He Huang 1 Sonia Ben Dhia 1
1 LAAS-ESE - Équipe Énergie et Systèmes Embarqués
LAAS - Laboratoire d'analyse et d'architecture des systèmes [Toulouse]
Abstract : This paper presents a simulation flow for the prediction of the long-term evolution of EMC levels during the lifetime of electronic devices or systems. This new requirement is essential to extend the warranty of critical applications operating in harsh environments. The simulation of the evolution of the electromagnetic emission of a switched-mode power supply is given as a validation case.
Type de document :
Communication dans un congrès
2016 Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility and Signal Integrity (APEMC2016), May 2016, Shenzhen, China. pp.452 - 455, 2016, Electromagnetic Compatibility (APEMC), 2016 Asia-Pacific International Symposium on. 〈10.1109/APEMC.2016.7522766〉
Liste complète des métadonnées

Littérature citée [3 références]  Voir  Masquer  Télécharger

https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01403875
Contributeur : Alexandre Boyer <>
Soumis le : lundi 28 novembre 2016 - 08:25:11
Dernière modification le : mardi 10 janvier 2017 - 15:13:13
Document(s) archivé(s) le : mardi 21 mars 2017 - 07:08:11

Fichier

PID4131123.pdf
Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

Identifiants

Citation

Alexandre Boyer, He Huang, Sonia Ben Dhia. Predicting the risk of non-compliance to EMC requirements during the life-cycle. 2016 Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility and Signal Integrity (APEMC2016), May 2016, Shenzhen, China. pp.452 - 455, 2016, Electromagnetic Compatibility (APEMC), 2016 Asia-Pacific International Symposium on. 〈10.1109/APEMC.2016.7522766〉. 〈hal-01403875〉

Partager

Métriques

Consultations de la notice

46

Téléchargements de fichiers

50