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Communication Dans Un Congrès Année : 2015

A novel low temperature etch approach to reduce ULK plasma damage

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01151524 , version 1 (13-05-2015)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01151524 , version 1

Citer

Liping Zhang, Jean-Francois de Marneffe, Floriane Leroy, Rami Ljazouli, Philippe Lefaucheux, et al.. A novel low temperature etch approach to reduce ULK plasma damage. Plasma Etch and Strip in Microtecnology, Apr 2015, Leuven, Belgium. ⟨hal-01151524⟩
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