Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2014
Hélène Fremont : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01091487
Soumis le : vendredi 5 décembre 2014-14:54:39
Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01091487 , version 1
- DOI : 10.1016/j.microrel.2014.07.117
Citer
Hélène Frémont, Jörg Kludt, Massar Wade, Geneviève Duchamp, Kirsten Weide-Zaage, et al.. Qualification procedure for moisture in embedded capacitors. Microelectronics Reliability, 2014, 54 (issues 9-10), pp.Pages 2013-2016. ⟨10.1016/j.microrel.2014.07.117⟩. ⟨hal-01091487⟩
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