Anisotropie structurelle induite par l'étirage à chaud d'une préforme en silice pure - Etude par dynamique moléculaire et par spectrométrie Raman

Xavier Bidault (1) , Stéphane Chaussedent (1) , Wilfried Blanc (2) , D. R. Neuville (3)

1 LPHIA - Laboratoire de Photonique d'Angers
2 LPMC - Laboratoire de physique de la matière condensée
3 IPGP - Institut de Physique du Globe de Paris

Cette étude révèle un nouvel aspect sur la structure de la silice à l'échelle nanométrique. L'orientation acquise par les petits anneaux (Si-O) n pour n ≤ 5 suite à la déformation à chaud persiste à froid et induit une anisotropie structurale dont la forme « isotropie transverse » est vérifiée par spectrométrie Raman.

Domaines: Optique [physics.optics]; Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]

Xavier Bidault, Stéphane Chaussedent, Wilfried Blanc, D. R. Neuville. Anisotropie structurelle induite par l'étirage à chaud d'une préforme en silice pure - Etude par dynamique moléculaire et par spectrométrie Raman. 34e Journées Nationals d'Optique Guidée, Oct 2014, Nice, France. ⟨hal-01081782⟩