"Geometrical Impact on RF performances of Broadband ESD Self Protected Transmission Line in Advanced CMOS Technologies" Fallen Leaf Lake, USA.

T. Lim (1) , J. Jimenez (2) , P. Benech (3) , J.-M. Fournier (3) , B. Heitz , P. Galy

1 LPMA - Laboratoire de Probabilités et Modèles Aléatoires
2 Departomento Tecnologia Electronice, ETSI de Telecomunicacion, Universitad Politecnica de Madrid, Spain
3 IMEP-LAHC - Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation

Domaines: Micro et nanotechnologies/Microélectronique

T. Lim, J. Jimenez, P. Benech, J.-M. Fournier, B. Heitz, et al.. "Geometrical Impact on RF performances of Broadband ESD Self Protected Transmission Line in Advanced CMOS Technologies" Fallen Leaf Lake, USA.. IIRW 2012, Oct 2012, Fallen Leaf Lake, United States. ⟨hal-01062280⟩