"Geometrical Impact on RF performances of Broadband ESD Self Protected Transmission Line in Advanced CMOS Technologies" Fallen Leaf Lake, USA.

Type de document :
Communication dans un congrès
IIRW 2012, Oct 2012, Fallen Leaf Lake, United States. 2012
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Contributeur : Isabelle Michelin <>
Soumis le : mardi 9 septembre 2014 - 15:25:52
Dernière modification le : jeudi 27 avril 2017 - 09:46:14

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  • HAL Id : hal-01062280, version 1

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T. Lim, J. Jimenez, P. Benech, J.-M. Fournier, B. Heitz, et al.. "Geometrical Impact on RF performances of Broadband ESD Self Protected Transmission Line in Advanced CMOS Technologies" Fallen Leaf Lake, USA.. IIRW 2012, Oct 2012, Fallen Leaf Lake, United States. 2012. <hal-01062280>

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