New method for the extraction of bulk channel mobility and flat-band voltage in junctionless transistors

D.Y. Jeon (1) , S.J. Park (1) , M. Mouis (1) , S. Barraud (2) , G.T. Kim , G. Ghibaudo (1)

1 IMEP-LAHC - Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation
2 LGCIE - Laboratoire de Génie Civil et d'Ingénierie Environnementale

Domaines: Micro et nanotechnologies/Microélectronique

D.Y. Jeon, S.J. Park, M. Mouis, S. Barraud, G.T. Kim, et al.. New method for the extraction of bulk channel mobility and flat-band voltage in junctionless transistors. Solid-State Electronics, 2013, 89, pp.139-141. ⟨10.1016/j.sse.2013.08.003⟩. ⟨hal-01002110⟩