Article Dans Une Revue
Journal of Applied Physics
Année : 2012
Serge Huant : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01001440
Soumis le : mercredi 4 juin 2014-15:30:09
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:10:19
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01001440 , version 1
- ARXIV : 1111.1193
- DOI : 10.1063/1.3697673
Citer
Pieter van Zwol, Laurent Ranno, Joël Chevrier. Emissivity measurements with an atomic force microscope. Journal of Applied Physics, 2012, 111, pp.063110. ⟨10.1063/1.3697673⟩. ⟨hal-01001440⟩
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