Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2013
Eric Woirgard : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00955719
Soumis le : mercredi 5 mars 2014-10:15:42
Dernière modification le : vendredi 9 février 2024-10:37:00
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00955719 , version 1
Citer
Fédia Baccar, Stéphane Azzopardi, Loïc Théolier, Kamal El Boubkari, Jean-Yves Deletage, et al.. Electrical characterization under mechanical stress at various temperatures of PiN power diodes in a health monitoring approach. Microelectronics Reliability, 2013, 53 (9-11), pp.1719-1724. ⟨hal-00955719⟩
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