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Communication Dans Un Congrès Année : 2013

Automated phase detection resolution using TEM spot diffraction patterns

Zhen Zhang

Domaines

Matériaux
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00950667 , version 1 (21-02-2014)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00950667 , version 1

Citer

M. Veron, E.F. Rauch, Zhen Zhang. Automated phase detection resolution using TEM spot diffraction patterns. Euromat 2013, Sep 2013, Seville, Spain. ⟨hal-00950667⟩
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