Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2013
Olivier Briat : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00950554
Soumis le : vendredi 21 février 2014-15:54:57
Dernière modification le : lundi 7 août 2023-15:22:08
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00950554 , version 1
- DOI : 10.1016/j.microrel.2013.07.079
Citer
Mohamed Ayadi, Olivier Briat, Akram Eddahech, Ronan German, Gérard Coquery, et al.. Thermal cycling impacts on supercapacitor performances during calendar ageing. Microelectronics Reliability, 2013, 53 (9-11), pp.1628-1631. ⟨10.1016/j.microrel.2013.07.079⟩. ⟨hal-00950554⟩
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