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Communication Dans Un Congrès Année : 2013

Dielectric breakdown study at nanometric scale under ultrahigh vacuum

M. Kogelschatz
  • Fonction : Auteur
Laboratoire des technologies de la microélectronique
R. Foissac
  • Fonction : Auteur
Laboratoire des technologies de la microélectronique
S. Blonkowski
  • Fonction : Auteur
STMicroelectronics [Crolles]
P. Delcroix
  • Fonction : Auteur
C. Sire
CV

Marielle Clot  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00919207

Soumis le : lundi 16 décembre 2013-14:21:53

Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-20:52:14

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00919207 , version 1 (16-12-2013)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00919207 , version 1

Citer

M. Kogelschatz, R. Foissac, S. Blonkowski, P. Delcroix, C. Sire. Dielectric breakdown study at nanometric scale under ultrahigh vacuum. 7th International Conference on Materials for Advanced Technologies, 2013, Jun 2013, Singapour, Singapore. ⟨hal-00919207⟩

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