In-situ silicon integrated tuner for automated on-wafer mmW noise parameters extraction of Si HBT and MOSFET in the range 60-110 GHz - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2008

In-situ silicon integrated tuner for automated on-wafer mmW noise parameters extraction of Si HBT and MOSFET in the range 60-110 GHz

Y. Tagro
  • Fonction : Auteur
D. Gloria
  • Fonction : Auteur
S. Boret
  • Fonction : Auteur
Y. Morandini
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00800955 , version 1 (14-03-2013)

Identifiants

Citer

Y. Tagro, D. Gloria, S. Boret, Y. Morandini, Gilles Dambrine. In-situ silicon integrated tuner for automated on-wafer mmW noise parameters extraction of Si HBT and MOSFET in the range 60-110 GHz. 72nd ARFTG Microwave Measurement Symposium, 2008, Portland, OR, United States. pp.119-122, ⟨10.1109/ARFTG.2008.4804284⟩. ⟨hal-00800955⟩
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