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Communication Dans Un Congrès Année : 2011

Optical far field measurements applied to microroughness determination of periodic microelectronic structures

Alexandre Vauselle
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 863587
P. Maillot
  • Fonction : Auteur
Gaelle Georges
Carole Deumie
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 834007
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00640870 , version 1 (14-11-2011)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00640870 , version 1

Citer

Alexandre Vauselle, P. Maillot, Gaelle Georges, Carole Deumie. Optical far field measurements applied to microroughness determination of periodic microelectronic structures. Advanced Lithography, 2011, san jose, United States. pp.797112. ⟨hal-00640870⟩
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