Characterization of Thin MgO Films on Ag(001) by Low-Energy Electron Diffraction and Scanning Tunneling Microscopy

Type de document :
Article dans une revue
Journal of Physical Chemistry C, American Chemical Society, 2011, 115 (16), pp.8034-8041
Liste complète des métadonnées

https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00603266
Contributeur : Hal Cinam <>
Soumis le : vendredi 24 juin 2011 - 15:17:26
Dernière modification le : jeudi 6 septembre 2018 - 16:08:02

Identifiants

  • HAL Id : hal-00603266, version 1

Collections

Citation

A. Ouvrard, J. Niebauer, A. Ghalgaoui, C. Barth, C.R. Henry, et al.. Characterization of Thin MgO Films on Ag(001) by Low-Energy Electron Diffraction and Scanning Tunneling Microscopy. Journal of Physical Chemistry C, American Chemical Society, 2011, 115 (16), pp.8034-8041. 〈hal-00603266〉

Partager

Métriques

Consultations de la notice

54