Characterization of Thin MgO Films on Ag(001) by Low-Energy Electron Diffraction and Scanning Tunneling Microscopy - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal of Physical Chemistry C Année : 2011

Characterization of Thin MgO Films on Ag(001) by Low-Energy Electron Diffraction and Scanning Tunneling Microscopy

A. Ouvrard
  • Fonction : Auteur
J. Niebauer
  • Fonction : Auteur
A. Ghalgaoui
  • Fonction : Auteur
C. Barth
Centre Interdisciplinaire de Nanoscience de Marseille
CV
C.R. Henry
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Centre Interdisciplinaire de Nanoscience de Marseille
B. Bourguignon
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https://hal.science/hal-00603266

Soumis le : vendredi 24 juin 2011-15:17:26

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:54

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Dates et versions

hal-00603266 , version 1 (24-06-2011)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00603266 , version 1

Citer

A. Ouvrard, J. Niebauer, A. Ghalgaoui, C. Barth, C.R. Henry, et al.. Characterization of Thin MgO Films on Ag(001) by Low-Energy Electron Diffraction and Scanning Tunneling Microscopy. Journal of Physical Chemistry C, 2011, 115 (16), pp.8034-8041. ⟨hal-00603266⟩

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