Article Dans Une Revue
Solid-State Electronics
Année : 2010
Chahla Domenget : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00596344
Soumis le : vendredi 27 mai 2011-09:59:17
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:40:35
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00596344 , version 1
Citer
J. Coignus, Cédric Leroux, R. Clerc, R. Truche, G. Ghibaudo, et al.. HfO2-based Gate Stacks Transport Mechanisms and Parameter Extraction. Solid-State Electronics, 2010, 54 (9), pp.972-978. ⟨hal-00596344⟩
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