Extraction of low-frequency noise in contact resistance of organic field-effect transistors - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Applied Physics Letters Année : 2010
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00596185 , version 1 (26-05-2011)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00596185 , version 1

Citer

Y. Xu, T. Minari, K. Tsukagoshi, R. Gwoziecki, R. Coppard, et al.. Extraction of low-frequency noise in contact resistance of organic field-effect transistors. Applied Physics Letters, 2010, 97, pp.033503. ⟨hal-00596185⟩
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