Article Dans Une Revue
Applied Physics Letters
Année : 2010
Chahla Domenget : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00596185
Soumis le : jeudi 26 mai 2011-16:32:01
Dernière modification le : mercredi 24 avril 2024-11:28:54
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00596185 , version 1
Citer
Y. Xu, T. Minari, K. Tsukagoshi, R. Gwoziecki, R. Coppard, et al.. Extraction of low-frequency noise in contact resistance of organic field-effect transistors. Applied Physics Letters, 2010, 97, pp.033503. ⟨hal-00596185⟩
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