Short circuit localization on integrated circuits using magnetic microscopy techniques coupled to simulations

Type de document :
Communication dans un congrès
16th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), Jul 2009, Suzhou, China. pp.1, 2009
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Contributeur : Chrystel Plumejeau <>
Soumis le : mercredi 13 avril 2011 - 16:20:07
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:21:09

Identifiants

  • HAL Id : hal-00585648, version 1

Citation

F. Infante, Philippe Perdu, S. Petremont, Dean Lewis. Short circuit localization on integrated circuits using magnetic microscopy techniques coupled to simulations. 16th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), Jul 2009, Suzhou, China. pp.1, 2009. 〈hal-00585648〉

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