In situ raman microspectrometry of lubricated trigologic contacts. Part two : simultaneous measurements of pressure, lubricant film thickness and temperature distributions in a running EHD contact - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Tribology Letters Année : 2011

In situ raman microspectrometry of lubricated trigologic contacts. Part two : simultaneous measurements of pressure, lubricant film thickness and temperature distributions in a running EHD contact

David Himmel
  • Fonction : Auteur
J.L Mansot
  • Fonction : Auteur
Y. Bercion
Antonius Lubrecht
Laboratoire de Mécanique des Contacts et des Structures [Villeurbanne]

Domaines

Génie mécanique [physics.class-ph] Génie mécanique [physics.class-ph]

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https://hal.science/hal-00577050

Soumis le : mercredi 16 mars 2011-10:00:28

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:54

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00577050 , version 1 (16-03-2011)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00577050 , version 1

Citer

David Himmel, J.L Mansot, Y. Bercion, Antonius Lubrecht. In situ raman microspectrometry of lubricated trigologic contacts. Part two : simultaneous measurements of pressure, lubricant film thickness and temperature distributions in a running EHD contact. Tribology Letters, 2011, 41, pp.131-144. ⟨hal-00577050⟩

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